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高功率脉冲PIV测试系统，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高级测量和建模软件支持多种负载牵引技术，包括使用外部仪器的传统负载牵引、基于VNA的负载牵引、主动负载牵引和混合负载牵。
SPAD光学传感器测试设备,光感测器量子效率测量仪， 为了能更好的应用在移动设备上，这些先进光传感器的组件感光面积越做越小。 但这些应用却对先进光传感器的光感测性能要求却越来越高。 在感光面积微缩的过程中，也带来量子效率精准检测的挑战。 我们采用与从不同的光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的测试方式，与各种先进探针台形成完整的微米级光感测器全光谱量子效率测试解决方案。
